mikroskop i forcës atomike afm
Mikroskopi i forcës atomike (AFM), një instrument analitik që mund të përdoret për të studiuar strukturën sipërfaqësore të materialeve të ngurta, duke përfshirë izoluesit.Ai studion strukturën sipërfaqësore dhe vetitë e një substance duke zbuluar ndërveprimin jashtëzakonisht të dobët ndëratomik midis sipërfaqes së mostrës që do të testohet dhe një elementi të ndjeshëm ndaj mikroforcave.Do të jetë një palë forcë e dobët jashtëzakonisht e ndjeshme në skajin e mikro-prozës së fiksuar, skaji tjetër i majës së vogël afër kampionit, atëherë ai do të ndërveprojë me të, forca do të bëjë deformimin e mikro-kantileve ose ndryshimet e gjendjes së lëvizjes.Gjatë skanimit të kampionit, sensori mund të përdoret për të zbuluar këto ndryshime, ne mund të marrim shpërndarjen e informacionit të forcës, në mënyrë që të marrim morfologjinë sipërfaqësore të informacionit të nano-rezolutës dhe informacionin e vrazhdësisë së sipërfaqes.
★ Sonda e integruar e skanimit dhe dreqi i kampionit rritën aftësinë kundër ndërhyrjes.
★ Lazeri preciz dhe pajisja e pozicionimit të sondës e bëjnë ndryshimin e sondës dhe rregullimin e vendit të thjeshtë dhe të përshtatshëm.
★ Duke përdorur metodën e afrimit të sondës së mostrës, gjilpëra mund të jetë pingul me skanimin e mostrës.
★ Sonda e kampionit të kontrollit automatik të motorit me impuls që afrohet vertikalisht, për të arritur pozicionimin e saktë të zonës së skanimit.
★ Zona me interes për skanimin e mostrës mund të lëvizte lirshëm duke përdorur dizajnin e pajisjes celulare të mostrës me saktësi të lartë.
★ Sistemi i vëzhgimit CCD me pozicionim optik arrin vëzhgimin dhe pozicionimin në kohë reale të zonës së skanimit të mostrës së sondës.
★ Dizajni i sistemit të kontrollit elektronik të modularizimit lehtësoi mirëmbajtjen dhe përmirësimin e vazhdueshëm të qarkut.
★ Integrimi i qarkut të kontrollit të modalitetit të skanimit të shumëfishtë, bashkëpunon me sistemin softuer.
★ Pezullim pranveror i cili i thjeshtë dhe praktik rrit aftësinë kundër ndërhyrjes.
| Modaliteti i punës | FM-Përgjimi, kontakt opsional, fërkim, fazor, magnetik ose elektrostatik |
| Madhësia | Φ≤90mm,H≤20 mm |
| Gama e skanimit | Drejtimi XY 20 mm,2 mm në drejtimin Z. |
| Rezolucioni i skanimit | 0.2 nm në drejtimin XY,0.05 nm në drejtimin Z |
| Gama e lëvizjes së mostrës | ±6,5 mm |
| Gjerësia e pulsit të motorit afrohet | 10±2 ms |
| Pika e kampionimit të imazhit | 256×256,512×512 |
| Zmadhimi optik | 4X |
| Rezolucioni optik | 2.5 mm |
| Shkalla e skanimit | 0,6Hz~4,34Hz |
| Këndi i skanimit | 0°~360° |
| Kontrolli i skanimit | D/A 18-bit në drejtimin XY,D/A 16-bit në drejtimin Z |
| Mostrimi i të dhënave | 14-bitA/D,Kampionimi sinkron i dyfishtë A/D me shumë kanale 16-bitësh |
| Feedback | Komentet dixhitale të DSP |
| Shkalla e kampionimit të reagimeve | 64.0 KHz |
| Ndërfaqja e kompjuterit | USB2.0 |
| Mjedisi operativ | Windows98/2000/XP/7/8 |